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Andrew John Stein

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2H指数
3论文数
34被引数
收录论文 1
发表时间
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Atomic force microscope for accurate dimensional metrology用于精确尺寸计量的原子力显微镜
errPRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY
IF3.7
err2009-04-01
err21
PREAI
errMazzeo, A. D.; Stein, A. J.; Trumper, D. L.; Hocken, R. J.
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研究方向

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合作学者
合作期刊
D
David L. Trumper
H 指数: 32 · 论文数: 159
R
R.J. Hocken
H 指数: 31 · 论文数: 116
A
Aaron D. Mazzeo
H 指数: 22 · 论文数: 68
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