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Y
Yuto Ohashi
Chiba University
4
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13
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24
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1
发表时间
发表时间
IF
被引数
Verification of Error-Increasing Factors by Sensor Response-Based Localization Technology Through Real Device Experiments
IEEE ACCESS
IF
3.6
2021-01-01
4
OA
AI
Shiraki, Shino; Ohashi, Yuto; Uehara, Takuhiro; Shioda, Shigeo
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合作学者
合作期刊
S
Shigeo Shioda
H 指数: 15 · 论文数: 215
S
Shino Shiraki
H 指数: 4 · 论文数: 19
T
Takuhiro Uehara
H 指数: 2 · 论文数: 6
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