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T
Takuhiro Uehara
Chiba University
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1
发表时间
发表时间
IF
被引数
Verification of Error-Increasing Factors by Sensor Response-Based Localization Technology Through Real Device Experiments
IEEE ACCESS
IF
3.6
2021-01-01
4
OA
AI
Shiraki, Shino; Ohashi, Yuto; Uehara, Takuhiro; Shioda, Shigeo
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合作学者
合作期刊
S
Shigeo Shioda
H 指数: 15 · 论文数: 215
Y
Yuto Ohashi
H 指数: 4 · 论文数: 13
S
Shino Shiraki
H 指数: 4 · 论文数: 19
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