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S
S. Narayan
indian institute of technology system (iit system)
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Precision surface metrology using a rapid optimization method in diffraction phase microscopy
基于衍射相位显微镜的快速优化方法精密表面测量学
APPLIED OPTICS
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1.7
2025-10-01
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PRE
AI
Narayan, Subrahmanya Keremane; Gannavarpu, Rajshekhar
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G
Gannavarpu, Rajshekhar
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