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Jae Hwa Seo

korea electrotechnology research institute

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Interface Damage Quantification Using an Algebraic Quantum-Transport Model基于代数量子输运模型的界面损伤量化
errIEEE Transactions on Electron Devices
IF3.2
err2026-10-20
err0
PREAI
errKibeom Kim; Young Jun Yoon; Jae Hwa Seo
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研究方向

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合作学者
合作期刊
Y
Young Jun Yoon
H 指数: 28 · 论文数: 207
K
Ki-Beom Kim
H 指数: 20 · 论文数: 123
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