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收藏Dynamic evolution of internal stress, grain growth, and crystallographic texture in arc-evaporated AlTiN thin films using in-situ synchrotron x-ray diffraction
Nayak, Sanjay; Hsu, Tun-Wei; Boyd, Robert; Gibmeier, Jens; Schell, Norbert; Birch, Jens; Rogstrom, Lina; Oden, Magnus
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