K
Kingsley Egbo
H指数:19
被引数:908
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
暂无内容
通过光学导纳谱法对As-Grown和Thermally-Treated Si掺杂κ-Ga2O3层的俘获现象进行评估
APL MATERIALS
IF4.5
从文本到测试: AI生成的材料科学仪器控制软件
DIGITAL DISCOVERY
IF5.6
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暂无内容
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