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收藏An In-Depth Investigation Into Short-Circuit Failure Mechanisms of State-of-the-Art 1200 V Double Trench SiC MOSFETs
Li, Xuan; Wu, Yifan; Qi, Zhao; Fu, Zhen; Chen, Yanning; Zhang, Wenmin; Zhang, Quan; Zhao, Hanqing; Deng, Xiaochuan; Zhang, Bo
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