J
Jan De Beenhouwer
H指数:19
被引数:3,443
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
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无矩阵高斯-牛顿方法在大规模电阻抗断层成像中的应用
利用XCT模拟研究个体物理效应对尺寸测量偏差的影响
Measurement
IF5.6
多源矩形X射线货物扫描系统的最优设计框架
将合成缺陷叠加到真实XCT数据中,并基于分割的对比分析用于先进检测概率评估
OPTICS EXPRESS
IF3.3
DAMMER:基于X射线测量的直接自适应多分辨率网格重建
APPLIED INTELLIGENCE
IF3.5
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OPTICS EXPRESS
IF3.3
PACS: 投影驱动自适应CADs x射线散射补偿增材制造检测
二维高密度微电极阵列三维阻抗断层成像的成像算法和最佳测量协议
IEEE SENSORS JOURNAL
IF4.5
OPTICS EXPRESS
IF3.3
OPTICS EXPRESS
IF3.3
OPTICS EXPRESS
IF3.3

