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收藏Effects of remote-surface-roughness scattering on carrier mobility in field-effect-transistors with ultrathin gate dielectrics
Saito, S; Torii, K; Shimamoto, Y; Tsujikawa, S; Hamamura, H; Tonomura, O; Mine, T; Hisamoto, D; Onai, T; Yugami, J; Hiratani, M; Kimura, S
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