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收藏Crystallinity, order, the thin-film silicon continuum, and the spectral dependence of the refractive index in thin silicon films grown through ultra-high-vacuum evaporation for a range of growth temperatures
Moghaddam, Saeed; Tay, Li-Lin; Noel, Mario; Zwinkels, Joanne C.; Baribeau, Jean-Marc; Lockwood, David J.; O'Leary, Stephen K.
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