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V

Vignesh Sampath

Argonne National Laboratory

8H指数
20论文数
583被引数
收录论文 4
发表时间
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A Defect Dataset for Electrode Coating Manufacturing电极涂覆制造缺陷数据集
errScientific Data
IF6.9
err2026-02-14
err0
errOAAI
errVignesh Sampath; Andrew S. Lee; Samuel David Miller; Noah H. Paulson; Yuepeng Zhang; Logan Ward
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Attention-Guided Multitask Learning for Surface Defect Identification
errIEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS
IF9.9
err2023-09-01
err26
errOAAI
errSampath, Vignesh; Maurtua, Inaki; Martin, Juan Jose Aguilar; Rivera, Andoni; Molina, Jorge; Gutierrez, Aitor
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Intraclass Image Augmentation for Defect Detection Using Generative Adversarial Neural Networks使用生成对抗神经网络进行内部图像增强以进行缺陷检测
errSENSORS
IF3.5
err2023-02-07
err10
errOAAI
errSampath, Vignesh; Maurtua, Inaki; Martin, Juan Jose Aguilar; Iriondo, Ander; Lluvia, Iker; Aizpurua, Gotzone
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A survey on generative adversarial networks for imbalance problems in computer vision tasks计算机视觉任务中不平衡问题的生成对抗网络综述
errJOURNAL OF BIG DATA
IF6.4
err2021-01-29
err125
errOAAI
errSampath, Vignesh; Maurtua, Inaki; Aguilar Martin, Juan Jose; Gutierrez, Aitor
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研究方向

暂无研究方向
合作学者
合作期刊
L
Logan Ward
H 指数: 32 · 论文数: 673
J
Juan José Aguilar Martín
H 指数: 23 · 论文数: 132
I
Iñaki Maurtua
H 指数: 17 · 论文数: 60
N
Noah H. Paulson
H 指数: 16 · 论文数: 57
I
Iker Lluvia
H 指数: 8 · 论文数: 13
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