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den Dekker, AJ

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收录论文 1
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High-resolution electron microscopy: From imaging toward measuring
errIEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF5.9
err2002-08-01
err15
errOAAI
errVan Aert, S; den Dekker, AJ; van den Bos, A; Van Dyck, D
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研究方向

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合作学者
合作期刊
D
D. Van Dyck
H 指数: 56 · 论文数: 522
S
Sandra Van Aert
H 指数: 48 · 论文数: 283
A
A. van den Bos
H 指数: 25 · 论文数: 87
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