Reimerdes, H.; Agostini, M.; Alessi, E.; Alberti, S.; Andrebe, Y.; Arnichand, H.; Balbin, J.; Bagnato, F.; Baquero-Ruiz, M.; Bernert, M.; Bin, W.; Blanchard, P.; Blanken, T. C.; Boedo, J. A.; Brida, D.; Brunner, S.; Bogar, C.; Bogar, O.; Bolzonella, T.; Bombarda, F.; Bouquey, F.; Bowman, C.; Brunetti, D.; Buermans, J.; Bufferand, H.; Calacci, L.; Camenen, Y.; Carli, S.; Carnevale, D.; Carpanese, F.; Causa, F.; Cavalier, J.; Cavedon, M.; Cazabonne, J. A.; Cerovsky, J.; Chandra, R.; Jayalekshmi, A. Chandrarajan; Chellai, O.; Chmielewski, P.; Choi, D.; Ciraolo, G.; Classen, I. G. J.; Coda, S.; Colandrea, C.; Dal Molin, A.; David, P.; de Baar, M. R.; Decker, J.; Dekeyser, W.; de Oliveira, H.; Douai, D.; Dreval, M.; Dunne, M. G.; Duval, B. P.; Elmore, S.; Embreus, O.; Eriksson, F.; Faitsch, M.; Falchetto, G.; Farnik, M.; Fasoli, A.; Fedorczak, N.; Felici, F.; Fevrier, O.; Ficker, O.; Fil, A.; Fontana, M.; Fransson, E.; Frassinetti, L.; Furno, I; Gahle, D. S.; Galassi, D.; Galazka, K.; Galperti, C.; Garavaglia, S.; Garcia-Munoz, M.; Geiger, B.; Giacomin, M.; Giruzzi, G.; Gobbin, M.; Golfinopoulos, T.; Goodman, T.; Gorno, S.; Granucci, G.; Graves, J. P.; Griener, M.; Gruca, M.; Gyergyek, T.; Haelterman, R.; Hakola, A.; Han, W.; Happel, T.; Harrer, G.; Harrison, J. R.; Henderson, S.; Hogeweij, G. M. D.; Hogge, J-P; Hoppe, M.; Horacek, J.; Huang, Z.; Iantchenko, A.; Innocente, P.; Bjork, K. Insulander; Ionita-Schrittweiser, C.; Isliker, H.; Jardin, A.; Jaspers, R. J. E.; Karimov, R.; Karpushov, A. N.; Kazakov, Y.; Komm, M.; Kong, M.; Kovacic, J.; Krutkin, O.; Kudlacek, O.; Kumar, U.; Kwiatkowski, R.; Labit, B.; Laguardia, L.; Lammers, J. T.; Laribi, E.; Laszynska, E.; Lazaros, A.; Linder, O.; Linehan, B.; Lipschultz, B.; Llobet, X.; Loizu, J.; Lunt, T.; Macusova, E.; Marandet, Y.; Maraschek, M.; Marceca, G.; Marchetto, C.; Marchioni, S.; Marmar, E. S.; Martin, Y.; Martinelli, L.; Matos, F.; Maurizio, R.; Mayoral, M-L; Mazon, D.; Menkovski, V; Merle, A.; Merlo, G.; Meyer, H.; Mikszuta-Michalik, K.; Cabrera, P. A. Molina; Morales, J.; Moret, J-M; Moro, A.; Moulton, D.; Muhammed, H.; Myatra, O.; Mykytchuk, D.; Napoli, F.; Nem, R. D.; Nielsen, A. H.; Nocente, M.; Nowak, S.; Offeddu, N.; Olsen, J.; Orsitto, F. P.; Pan, O.; Papp, G.; Pau, A.; Perek, A.; Pesamosca, F.; Peysson, Y.; Pigatto, L.; Piron, C.; Poradzinski, M.; Porte, L.; Putterich, T.; Rabinski, M.; Raj, H.; Rasmussen, J. J.; Ratta, G. A.; Ravensbergen, T.; Ricci, D.; Ricci, P.; Rispoli, N.; Riva, F.; Rivero-Rodriguez, J. F.; Salewski, M.; Sauter, O.; Schmidt, B. S.; Schrittweiser, R.; Sharapov, S.; Sheikh, U. A.; Sieglin, B.; Silva, M.; Smolders, A.; Snicker, A.; Sozzi, C.; Spolaore, M.; Stagni, A.; Stipani, L.; Sun, G.; Tala, T.; Tamain, P.; Tanaka, K.; Biwole, A. Tema; Terranova, D.; Terry, J. L.; Testa, D.; Theiler, C.; Thornton, A.; Thrysoe, A.; Torreblanca, H.; Tsui, C. K.; Vaccaro, D.; Vallar, M.; van Berkel, M.; Van Eester, D.; van Kampen, R. J. R.; Van Mulders, S.; Verhaegh, K.; Verhaeghe, T.; Vianello, N.; Villone, F.; Viezzer, E.; Vincent, B.; Voitsekhovitch, I; Vu, N. M. T.; Walkden, N.; Wauters, T.; Weisen, H.; Wendler, N.; Wensing, M.; Widmer, F.; Wiesen, S.; Wischmeier, M.; Wijkamp, T. A.; Wunderlich, D.; Wuthrich, C.; Yanovskiy, V; Zebrowski, J.

Electron properties of an emissive cathode: analysis with incoherent thomson scattering, fluid simulations and Langmuir probe measurements

JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS

IF3.2

2020-07-2315

OAAI

Incoherent Thomson scattering measurements of electron properties in a conventional and magnetically-shielded Hall thruster

PLASMA SOURCES SCIENCE & TECHNOLOGY

IF3.3

2020-03-0629

OAAI

Time-resolved electron properties of a HiPIMS argon discharge via incoherent Thomson scattering

PLASMA SOURCES SCIENCE & TECHNOLOGY