Y
Yu Sun
H指数:5
被引数:267
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
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倒装芯片微凸点可靠性研究:利用双驱动自适应重加权稀疏框架增强振动信号缺陷特征
寻找具有可视化振动信号架构功能的双收敛稀疏特征提取器,用于倒装芯片缺陷检测
用于倒装芯片缺陷检测的新型三概率空间逻辑解耦蒸馏
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倒装芯片微凸点可靠性研究:利用双驱动自适应重加权稀疏框架增强振动信号缺陷特征
寻找具有可视化振动信号架构功能的双收敛稀疏特征提取器,用于倒装芯片缺陷检测
用于倒装芯片缺陷检测的新型三概率空间逻辑解耦蒸馏