未登录
分享
收藏
分享
收藏Open Set Industrial Surface Defect Recognition With High Frequency Feature Enhancement and Class Mutual-Information Constraint开放集工业表面缺陷识别:高频特征增强与类别互信息约束
Yang, Zhen; Zheng, Tianyong; Ni, Xuefeng; Yan, Zhi; Liu, Shangzhi; Yu, Yingtian; Chen, Hong; Wang, Yaonan; Fang, Leyuan; Hao, Wei
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏