L
Lin Gu
H指数:9
被引数:288
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
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BN缓冲层厚度对a-BN/4H-SiC异质结界面结构和能带排列的影响
通过等离子体增强原子层沉积法制备的AlON薄膜改善4H-SiC MOS电容器的物理和电气特性
通过激光退火在β-Ga2O3上形成的低电阻率Cr/Au欧姆接触的界面纳米结构及电学机理揭示
能带排列、热输运性质和高品质β-Ga₂O₃/AlN肖特基势垒二极管(通过MOCVD生长)的电学性能
4H-SiC沟槽MOS电容器中具有薄SiO2界面层的ZrO2栅介质的研究
MATERIALS
IF3.2
通过ALD沉积中间层改性的4H-SiC MOS电容器中界面态密度的降低
NANOMATERIALS
IF4.3
OPTICAL MATERIALS
IF4.2
NANOMATERIALS
IF4.3
退火温度对金刚石复合衬底上脉冲激光沉积生长的Ga2O3界面传热的影响

