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J

James F. Browning

oak ridge national laboratory
H指数:29
被引数:2,912

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Characterizing Hygroscopic Films of Polyzwitterions in Electric Fields Using Neutron and X-ray Reflectometries: Electrostriction or Mass Loss?

使用中子和x射线反射表征电场中聚两性离子的吸湿膜: 电致伸缩或质量损失？

ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES
IF8.2
2024-08-282
PRE
Christakopoulos, Panagiotis; Wang, Hanyu; Bonnesen, Peter V.; Keum, Jong K.; Wang, Yangyang; Hong, Kunlun; Lokitz, Bradley S.; Doucet, Mathieu; Browning, James F.; Advincula, Rigoberto C.; Kumar, Rajeev
Combined, time-resolved, in situ neutron reflectometry and X-ray diffraction analysis of dynamic SEI formation during electrochemical N2 reduction

电化学N2还原过程中动态SEI形成的时间分辨原位中子反射仪和x射线衍射分析

ENERGY & ENVIRONMENTAL SCIENCE
IF30.8
2023-01-0117
OA
Blair, Sarah J.; Doucet, Mathieu; Niemann, Valerie A.; Stone, Kevin H.; Kreider, Melissa E.; Browning, James F.; Halbert, Candice E.; Wang, Hanyu; Benedek, Peter; McShane, Eric J.; Nielander, Adam C.; Gallo, Alessandro; Jaramillo, Thomas F.

研究方向

暂未获取到该数据
M
Mathieu Doucet
H 指数:30论文数:199被引数:4,558
G
Gabriel M. Veith
H 指数:79论文数:468被引数:2.1万
J
Jong K. Keum
H 指数:53论文数:281被引数:9,477
H
Hanyu Wang
H 指数:31论文数:107被引数:8,342
R
Robert L. Sacci
H 指数:38论文数:216被引数:4,930
K
Kai Xiao
H 指数:71论文数:457被引数:1.9万
C
Candice E. Halbert
H 指数:12论文数:24被引数:470
Jihua Chen 封面图
Jihua Chen
H 指数:62论文数:316被引数:1.2万
K
Kunlun Hong
H 指数:54论文数:455被引数:1.2万
S
Sanjib Das
H 指数:21论文数:55被引数:1,654