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M

Manfred Martin

RWTH Aachen University
H指数:50
被引数:7,760

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工作经历

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荣誉奖项

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Engineering shallow and deep level defects in x-Ga 2 O 3 thin films: comparing metal-organic vapour phase epitaxy to molecular beam epitaxy and the effect of annealing treatments
MATERIALS TODAY PHYSICS
IF9.7
2024-06-012
OAAI
Mazzolini, P.; Varley, J. B.; Parisini, A.; Sacchi, A.; Pavesi, M.; Bosio, A.; Bosi, M.; Seravalli, L.; Janzen, B. M.; Marggraf, M. N.; Bernhardt, N.; Wagner, M. R.; Ardenghi, A.; Bierwagen, O.; Falkenstein, A.; Kler, J.; De Souza, R. A.; Martin, M.; Mezzadri, F.; Borelli, C.; Fornari, R.

研究方向

暂未获取到该数据
R
Roger A. De Souza
H 指数:54论文数:232被引数:9,208
A
Andreas Falkenstein
H 指数:10论文数:28被引数:550
H
Han‐Ill Yoo
H 指数:32论文数:181被引数:3,726
S
Steffen Grieshammer
H 指数:16论文数:53被引数:1,267
J
Julius Koettgen
H 指数:12论文数:36被引数:2,220
O
Oliver Bierwagen
H 指数:40论文数:196被引数:5,848
P
Piero Mazzolini
H 指数:19论文数:78被引数:1,211
J
Jürgen Janek
H 指数:118论文数:886被引数:5.9万
F
Fabian M. Draber
H 指数:6论文数:9被引数:191
Z
Zuhair A. Munir
H 指数:65论文数:452被引数:1.9万