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Fault Testing Circuit and Algorithm for PCRAM Array Based on Temperature Regulation
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DOI：10.1109/TED.2026.3678157.png)
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摘要
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基于相变存储器（PCRAM）的新兴非易失性存储器有望突破传统存储系统的性能瓶颈。然而，相变材料的固有热敏感性，以及高密度集成的挑战，容易引发热干扰和相变阈值漂移等特殊故障，导致可靠性下降。为解决这些问题，本文提出了一种基于器件模型综合热分析的温控故障检测方法。建立了一个集成缺陷导向（DO）和电阻缺陷（RD）模型的仿真平台，以支持双路径动态监测电路的设计。该电路在存储器内置自测（MBIST）架构中引入双裕度比较器，通过对比位线（IBL）和源线（ISL）数据路径的动态数据，实现复合故障的实时检测。此外，开发了一种March-PCRAM故障检测算法，利用温度梯度激活易故障区域。仿真和实验结果表明，通过循环测试和温度调控，微小故障的检测效果更优，从而降低故障检测延迟并提升测试灵敏度。所提出的方法提供了一种鲁棒的测试框架，显著提高了PCRAM阵列的故障覆盖率。
Keyword:
Fault injection
March algorithm
PCRAM
temperature regulation
test circuit
期刊
IF:
3.2
论文数:
754
被引数:
3.7W
机构
引用论文
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