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Shiyu Li

nanjing university of posts and telecommunications

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Fault Testing Circuit and Algorithm for PCRAM Array Based on Temperature Regulation基于温度调节的PCRAM阵列故障测试电路与算法
errIEEE Transactions on Electron Devices
IF3.2
err2026-04-01
err0
PREAI
errXiaojuan Lian; Yunbo Zhang; Zi Li; Shiyu Li; Chenfei Hua; Nan He; Zhikuang Cai; Lei Wang
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研究方向

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合作学者
合作期刊
L
Lei Wang
H 指数: 28 · 论文数: 342
X
Xiaojuan Lian
H 指数: 26 · 论文数: 108
N
Nan He
H 指数: 21 · 论文数: 108
Z
Zhikuang Cai
H 指数: 9 · 论文数: 110
Z
Zi Li
H 指数: 0 · 论文数: 1
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