High-Speed Redundancy Analysis for Complex Spare Structures

Youngkwang Lee

doi:10.1109/tcad.2026.3653873

High-Speed Redundancy Analysis for Complex Spare Structures

2026-01-13

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DOI：10.1109/tcad.2026.3653873

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通过备用线替换修复故障单元的技术被广泛应用于提高动态随机存取存储器（DRAM）等存储器件的制造良率。然而，由于硬件开销等约束，可用于DRAM修复的备用线数量有限。因此，需要高效的冗余分析（RAs）算法以通过有效分配这些稀缺资源来最大化修复率。尽管已提出多种RA算法，但大多数算法针对简单备用结构进行优化，当应用于具有复杂备用结构的现代DRAM时，会导致分析时间延长或修复率降低。为解决此限制，我们提出了一种针对这些先进备用结构优化的新型RA算法。该算法利用增强的早期终止（ET）技术快速识别有效的修复方案，并确保在复杂备用结构下成功修复所有可修复的存储器。实验结果表明，与现有算法相比，所提出的算法在减少分析时间的同时确保了完整的修复方案。

Keyword:

Complex spare structure

early termination (ET)

memory repair

redundancy analysis (RA)

High-Speed Redundancy Analysis for Complex Spare Structures

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