Plumley, R.; Chitturi, S. R.; Peng, C.; Assefa, T. A.; Burdet, N.; Shen, L.; Chen, Z.; Reid, A. H.; Dakovski, G. L.; Seaberg, M. H.; O'Dowd, F.; Montoya, S. A.; Chen, H.; Okullo, A.; Mardanya, S.; Kevan, S. D.; Fischer, P.; Fullerton, E. E.; Sinha, S. K.; Colocho, W.; Lutman, A.; Decker, F. -J.; Roy, S.; Fujioka, J.; Tokura, Y.; Minitti, M. P.; Johnson, J. A.; Hoffmann, M.; Amoo, M. E.; Feiguin, A.; Yoon, C.; Thayer, J.; Nashed, Y.; Jia, C.; Bansil, A.; Chowdhury, S.; Lindenberg, A. M.; Dunne, M.; Blackburn, E.; Turner, J. J.
Nass, Karol; Redecke, Lars; Perbandt, M.; Yefanov, O.; Klinge, M.; Koopmann, R.; Stellato, F.; Gabdulkhakov, A.; Schoenherr, R.; Rehders, D.; Lahey-Rudolph, J. M.; Aquila, A.; Barty, A.; Basu, S.; Doak, R. B.; Duden, R.; Frank, M.; Fromme, R.; Kassemeyer, S.; Katona, G.; Kirian, R.; Liu, H.; Majoul, I.; Martin-Garcia, J. M.; Messerschmidt, M.; Shoeman, R. L.; Weierstall, U.; Westenhoff, S.; White, T. A.; Williams, G. J.; Yoon, C. H.; Zatsepin, N.; Fromme, P.; Duszenko, M.; Chapman, H. N.; Betzel, C.
Ayyer, Kartik; Morgan, Andrew J.; Aquila, Andrew; DeMirci, Hasan; Hogue, Brenda G.; Kirian, Richard A.; Xavier, P. Lourdu; Yoon, Chun Hong; Chapman, Henry N.; Barty, Anton
Kirian, Richard A.; Bean, Richard J.; Beyerlein, Kenneth R.; Barthelmess, Miriam; Yoon, Chun Hong; Wang, Fenglin; Capotondi, Flavio; Pedersoli, Emanuele; Barty, Anton; Chapman, Henry N.
Martin, Andrew V.; D'Alfonso, Adrian J.; Wang, Fenglin; Bean, Richard; Capotondi, Flavio; Kirian, Richard A.; Pedersoli, Emanuele; Raimondi, Lorenzo; Stellato, Francesco; Yoon, Chun Hong; Chapman, Henry N.
Martin, Andrew V.; D'Alfonso, Adrian J.; Wang, Fenglin; Bean, Richard; Capotondi, Flavio; Kirian, Richard A.; Pedersoli, Emmanuele; Raimondi, Lorenzo; Stellato, Francesco; Yoon, Chun Hong; Chapman, Henry N.