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Hyein Lim

Samsung Electronics

7H指数
22论文数
97被引数
收录论文 1
发表时间
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Accurate Layout-Dependent Effect Model in 10 nm-Class DRAM Process Using Area-Efficient Array Test Circuits
errIEEE ACCESS
IF3.6
err2023-01-01
err0
errOAAI
errKim, Seyoung; Yang, Seungho; Lim, Hyein; Lee, Hyein; Jeon, Jongwook; Choi, Jung Yun; Kim, Jaeha
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研究方向

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合作学者
合作期刊
J
Jaeha Kim
H 指数: 25 · 论文数: 183
J
Jongwook Jeon
H 指数: 19 · 论文数: 136
S
Seung-Ho Yang
H 指数: 9 · 论文数: 88
J
Jung Yun Choi
H 指数: 6 · 论文数: 24
H
Hyein Lee
H 指数: 5 · 论文数: 16
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