logo
科言猫学术研究的AI总结
language
手机端手机端
  • Phone Feature微信小程序
简体中文简体中文
notice消息通知
博客博客
delete
arrow
返回
J

Jung Yun Choi

Samsung Electronics

6H指数
24论文数
109被引数
收录论文 1
发表时间
logo
Accurate Layout-Dependent Effect Model in 10 nm-Class DRAM Process Using Area-Efficient Array Test Circuits
errIEEE ACCESS
IF3.6
err2023-01-01
err0
errOAAI
errKim, Seyoung; Yang, Seungho; Lim, Hyein; Lee, Hyein; Jeon, Jongwook; Choi, Jung Yun; Kim, Jaeha
err分享
err收藏

研究方向

暂时未获取到该数据
合作学者
合作期刊
J
Jaeha Kim
H 指数: 25 · 论文数: 183
J
Jongwook Jeon
H 指数: 19 · 论文数: 136
S
Seung-Ho Yang
H 指数: 9 · 论文数: 88
H
Hyein Lim
H 指数: 7 · 论文数: 22
H
Hyein Lee
H 指数: 5 · 论文数: 16
查看更多