未登录Understanding the Leakage Mechanisms and Breakdown Limits of Vertical GaN-on-Si p+n-n Diodes: The Road to Reliable Vertical MOSFETs
Mukherjee, Kalparupa; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Borga, Matteo; You, Shuzhen; Geens, Karen; Bakeroot, Benoit; Decoutere, Stefaan; Gerosa, Andrea; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏