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收藏Sub-10 nm low current resistive switching behavior in hafnium oxide stack
Hou, Y.; Celano, U.; Goux, L.; Liu, L.; Fantini, A.; Degraeve, R.; Youssef, A.; Xu, Z.; Cheng, Y.; Kang, J.; Jurczak, M.; Vandervorst, W.
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收藏Crystallization study of melt quenched amorphous GeTe by transmission electron microscopy for phase change memory applications
Bastard, A.; Bastien, J. C.; Hyot, B.; Lhostis, S.; Mompiou, F.; Bonafos, C.; Servanton, G.; Borowiak, C.; Lorut, F.; Bicais-Lepinay, N.; Toffoli, A.; Sandhya, C.; Fantini, A.; Perniola, L.; Gourvest, E.; Maitrejean, S.; Roule, A.; Sousa, V.; Bensahel, D.; Andre, B.
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