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C

Chung-En Tsai

National Taiwan University

10H指数
43论文数
284被引数
收录论文 2
发表时间
Rapid thermal process driven intra-die device variations
err2022-12-01
err1
errOAAI
errTsai, C. H.; Aboy, M.; Pelaz, L.; Hsu, Y. H.; Woon, W. Y.; Timans, P. J.; Lee, C. K.
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Achieving junction stability in heavily doped epitaxial Si:P
err2021-06-01
err9
errOAAI
errTsai, C. H.; Hsu, Y. H.; Santos, I.; Pelaz, L.; Kowalski, J. E.; Liou, J. W.; Woon, W. Y.; Lee, C. K.
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