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Ho, Sheng-Zhu

national cheng kung university

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发表时间
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Quantitative scanning capacitance microscopy enabled by machine learning and electrostatic modeling机器学习与静电建模赋能的定量扫描电容显微镜
errJOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B
IF1.2
err2026-03-01
err0
PREAI
errHo, Sheng-Zhu; Wen, Si-An; Chen, Yi-Chun; Gui, Dong; Hu, Wei-Shan
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研究方向

暂无研究方向
合作学者
合作期刊
D
Dong Gui
H 指数: 4 · 论文数: 20
S
Si-An Wen
H 指数: 0 · 论文数: 3
C
Chen, Yi-chun
H 指数: 0 · 论文数: 1
H 指数: 0 · 论文数: 27
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