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Ferroelectric distortion in SrTiO3 thin films on Si(001) by x-ray absorption fine structure spectroscopy:: Experiment and first-principles calculations Woicik, J. C.; Shirley, E. L.; Hellberg, C. S.; Andersen, K. E.; Sambasivan, S.; Fischer, D. A.; Chapman, B. D.; Stern, E. A.; Ryan, P.; Ederer, D. L.; Li, H. 分享 收藏
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Direct structural determination in ultrathin ferroelectric films by analysis of synchrotron x-ray scattering measurements 通过同步加速器x射线散射测量分析直接确定超薄铁电薄膜的结构 Fong, DD; Cionca, C; Yacoby, Y; Stephenson, GB; Eastman, JA; Fuoss, PH; Streiffer, SK; Thompson, C; Clarke, R; Pindak, R; Stern, EA 分享 收藏
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Direct atomic structure determination of epitaxially grown films:: Gd2O3 on GaAs(100) -: art. no. 205311 Sowwan, M; Yacoby, Y; Pitney, J; MacHarrie, R; Hong, M; Cross, J; Walko, DA; Clarke, R; Pindak, R; Stern, EA 分享 收藏
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