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L. Jastrzȩbski

机构信息待补充

25H指数
155论文数
2.6K被引数
收录论文 1
发表时间
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Non-contact charge-voltage method for dielectric characterization on small test areas of IC product wafers
errMATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING
IF4.6
err2006-02-01
err8
PREAI
errEdelman, Piotr; Marinskiy, Dmitriy; Almeida, Carlos; Kochey, Joseph N.; Byelyayev, Anton; Wilson, Marshall; Savtchouk, Alexandre; D'Amico, John; Findlay, Andrew; Jastrzebski, Lubek; Lagowski, Jacek
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研究方向

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合作学者
合作期刊
J
J. Łagowski
H 指数: 42 · 论文数: 330
M
Marshall Wilson
H 指数: 14 · 论文数: 90
C
Carlos Almeida
H 指数: 14 · 论文数: 42
P
Piotr Edelman
H 指数: 13 · 论文数: 69
J
John D’Amico
H 指数: 12 · 论文数: 62
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