C
Chao Han
H指数:14
被引数:607
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
暂无内容
首次展示具有记录短路能力的1.2 kV不对称P+埋层4H-SiC MOSFET
4H-SiC衬底上表面台阶调控的β-Ga2O3薄膜面内取向用于深紫外光电探测器
基于W/C多层结构的轻掺杂n型4H-SiC高温稳定欧姆接触工艺
基于D-D中子源的燃耗测量装置的物理设计
在电荷不平衡状态下对SiC超结终端结构的分析与制备
PHYSICAL REVIEW B
IF3.7
PHYSICAL REVIEW B
IF3.7
PHYSICAL REVIEW X
IF15.7
PHYSICAL REVIEW B
IF3.7
质子辐射对4H-SiC结势垒肖特基二极管场限环边缘终端的影响

