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Impact of changes in bond structure on ovonic threshold switching behaviour in GeSe2 (vol 35, pg 151, 2020) Keukelier, Jonas; Opsomer, Karl; Nuytten, Thomas; Sergeant, Stefanie; Devulder, Wouter; Clima, Sergiu; Goux, Ludovic; Kar, Gouri Sankar; Detavernier, Christophe 分享 收藏
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Defect profiling in FEFET Si:HfO2 layers O'Sullivan, B. J.; Putcha, V; Izmailov, R.; Afanas'ev, V; Simoen, E.; Jung, T.; Higashi, Y.; Degraeve, R.; Truijen, B.; Kaczer, B.; Ronchi, N.; McMitchell, S.; Banerjee, K.; Clima, S.; Breuil, L.; Van den Bosch, G.; Linten, D.; Van Houdt, J. 分享 收藏
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Voltage-controlled reverse filament growth boosts resistive switching memory 电压控制的反向灯丝生长提高了电阻开关存储器 Belmonte, Attilio; Celano, Umberto; Chen, Zhe; Radhaskrishnan, Janaki; Redolfi, Augusto; Clima, Sergiu; Richard, Olivier; Bender, Hugo; Kar, Gouri Sankar; Vandervorst, Wilfried; Goux, Ludovic 分享 收藏
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Low leakage Ru-strontium titanate-Ru metal-insulator-metal capacitors for sub-20 nm technology node in dynamic random access memory Popovici, M.; Swerts, J.; Redolfi, A.; Kaczer, B.; Aoulaiche, M.; Radu, I.; Clima, S.; Everaert, J. -L.; Van Elshocht, S.; Jurczak, M. 分享 收藏
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