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D
Dobai, Roland
Brno University of Technology
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Efficient On-Chip Randomness Testing Utilizing Machine Learning Techniques
利用机器学习技术的高效片上随机性测试
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS
IF
3.1
2019-12-01
1
PRE
AI
Mrazek, Vojtech; Sekanina, Lukas; Dobai, Roland; Sys, Marek; Svenda, Petr
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合作学者
合作期刊
L
Lukáš Sekanina
H 指数: 32 · 论文数: 272
V
Vojtěch Mrázek
H 指数: 17 · 论文数: 80
P
Petr Švenda
H 指数: 10 · 论文数: 111
M
Marek Sýs
H 指数: 9 · 论文数: 28
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