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收藏Impact of excess oxygen on electrical characteristics and bias stability in plasma-enhanced atomic layer deposition ultrathin InOx FETs过量氧气对等离子体增强原子层沉积超薄InOx FETs电学特性和偏压稳定性的影响
Chen, Chia-Tsong; Toprasertpong, Kasidit; Irisawa, Toshifumi; Nunomura, Shota; Migita, Shinji; Chang, Wen Hsin; Nishino, Ryutaro; Morita, Yukinori; Ota, Hiroyuki; Maeda, Tatsuro
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收藏SiO2/Si stack's damage in plasma processing: Ar, O2, and H2 gas species effect on damage formation, structure, and recoverySiO2/Si堆叠结构在等离子体处理中的损伤:Ar、O2和H2气体种类对损伤形成、结构和恢复的影响
Nunomura, Shota; Tsutsumi, Takayoshi; Kamataki, Kunihiro; Oshima, Ryuji; Shiratani, Masaharu; Hori, Masaru
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