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收藏Ultrafast progressive breakdown associated with metal-like filament formation of a breakdown path in a HfO2/TaN/TiN transistor
Ranjan, R; Pey, KL; Tung, CH; Ang, DS; Tang, LJ; Kauerauf, T; Degraeve, R; Groeseneken, G; De Gendt, S; Bera, LK
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