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C
Chang Lü
H指数:10
被引数:300
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
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Buildings
IF3.1
工艺诱导封装缺陷对功率器件可靠性的影响及缓解策略
夏启；陆晨；侯宇；吴超；崔哲；阿巴斯；李贤浩；岳军；吕飞；穆罕默德·拉赫曼. 基于数字孪生和多源数据融合的功率模块剩余寿命预测. IEEE 电力电子汇刊, 2026, 41, 13536–13550. [谷歌学术] [CrossRef] [Scilit]
电力电子中的自愈焊点：芯片键合空隙对可靠性的实验验证
金属有机框架工程化的 quasi-solid-state electrolytes: 来自孔道特性和配体功能的协同效应
Energy Storage Materials
IF20.2
可迁移的针对合成孔径雷达（SAR）图像识别的对抗攻击
REMOTE SENSING
IF4.1
SUSTAINABILITY
IF3.3
不同热机械应力水平下预先存在的空隙对焊料可靠性的影响: 实验评估
MATERIALS & DESIGN
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特征重用网络: 基于特征重用的带钢表面缺陷快速分割网络模型
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IF2.5
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IF3.6
