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科言猫学术研究的AI总结
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Meleis, WM

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发表时间
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Using data compression in automatic test equipment for system-on-chip testing在片上系统测试的自动测试设备中使用数据压缩
errIEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF5.9
err2004-04-01
err10
PREAI
errKarimi, F; Navabi, Z; Meleis, WM; Lombardi, F
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研究方向

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合作学者
合作期刊
F
Fabrizio Lombardi
H 指数: 67 · 论文数: 941
Z
Zainalabedin Navabi
H 指数: 21 · 论文数: 342
F
F. Karimi
H 指数: 7 · 论文数: 37
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