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收藏Surface photovoltage and Auger electron spectromicroscopy studies of HfO2/SiO2/4H-SiC and HfO2/Al2O3/4H-SiC structures
Domanowska, A.; Miczek, M.; Ucka, R.; Matys, M.; Adamowicz, B.; Zywicki, J.; Taube, A.; Korwin-Mikke, K.; Gieraltowska, S.; Sochacki, M.
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