A
Anup Yadav
H指数:4
被引数:41
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
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通过控制Si/Al2O3/HfO2堆栈中的针孔形成实现局部直接金属-硅接触
一种非破坏性方法,用于推断高质量硅片中的体寿命
利用光激发μ子自旋谱技术提取钝化硅的表面和体复合参数
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通过控制Si/Al2O3/HfO2堆栈中的针孔形成实现局部直接金属-硅接触
一种非破坏性方法,用于推断高质量硅片中的体寿命
利用光激发μ子自旋谱技术提取钝化硅的表面和体复合参数