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收藏Failure mechanisms of GaN HEMTs in single event destructive short-circuit at different VDS voltage levels不同VDS电压水平下单粒子破坏性短路下GaN HEMTs的失效机理
Dedew, M. L.; Lefebvre, S.; Nguyen, T. A.; Le, T. L.; Rustichelli, V.; Oliveira, J.; Alam, M.; Fradin, J. P.; Marie, A.; Coccetti, F.
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收藏In Situ Investigation of Plasticity Mechanisms of the β Phase in (Ni, Pt)Al Bond Coats During Thermal Cycling by High-Energy X-Ray Diffraction原位高能X射线衍射研究热循环过程中(Ni, Pt)Al粘结层中β相的塑性变形机制
Lamari, Mathias; Mahfouz, Lara; Texier, Damien; Courtois, Loic; Gailliegue, Sylvain; King, Andrew; Proudhon, Henry; Maurel, Vincent
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收藏On the activation energy in SP-GaN gate HEMT devices during gate lifetime test在SP-GaN栅HEMT器件门寿命测试期间的激活能
Alam, Maroun; Rustichelli, Valeria; Zerarka, Moustafa; Banc, Christophe; Pieprzyk, Jean-Francois; Perrotin, Olivier; Ceccarelli, Romain; Tremouilles, David; Matmat, Mohamed; Coccetti, Fabio
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