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科言猫学术研究的AI总结
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sungkyunkwan university (skku)

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A framework for detecting unknown defect patterns on wafer bin maps using active learning使用主动学习检测晶圆bin图上未知缺陷模式的框架
errEXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS
IF7.5
err2025-01-01
err1
PREAI
errShin, Jin-Su; Kim, Min-Joo; Lee, Dong-Hee
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Enhanced detection of unknown defect patterns on wafer bin maps based on an open-set recognition approach基于开集识别方法的晶圆仓图上未知缺陷模式的增强检测
errCOMPUTERS IN INDUSTRY
IF9.1
err2025-01-01
err1
PREAI
errShin, Jin-Su; Kim, Min-Joo; Kim, Beom-Seok; Lee, Dong-Hee
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研究方向

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合作学者
合作期刊
D
Dong‐Hee Lee
H 指数: 23 · 论文数: 234
B
B. Kim
H 指数: 4 · 论文数: 6
J
Jin-Su Shin
H 指数: 3 · 论文数: 6
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