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Rockhyun Baek

POSTECH

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收录论文 1
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Machine Learning-Driven Variability Analysis of Process Parameters for Semiconductor Manufacturing机器学习驱动的半导体制造工艺参数变异性分析
errAdvanced Intelligent Systems
IF6.1
err2026-03-06
err0
errOAAI
errSinyeong Kang; Hyeok Yun; Kyeongrae Cho; Seungjoon Eom; Soomin Kim; Seongsoo Jeong; Rockhyun Baek
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研究方向

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合作学者
合作期刊
H
Hyeok Yun
H 指数: 7 · 论文数: 25
K
Kyeongrae Cho
H 指数: 2 · 论文数: 11
S
Seungjoon Eom
H 指数: 1 · 论文数: 12
S
Soomin Kim
H 指数: 0 · 论文数: 3
S
Sinyeong Kang
H 指数: 0 · 论文数: 6
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