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K

Kim, Ganghyeon

pohang university of science and technology

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收录论文 1
发表时间
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Non-Linear Dark Current Behavior in CMOS Image SensorCMOS图像传感器中的非线性暗电流行为
errIEEE Electron Device Letters
IF4.5
err2026-09-01
err0
PREAI
errKang, Jungwoo; Kang, Jeonwoong; Bak, Jiwon; Kim, Ganghyeon; Alj, Antoine Salih; Goiffon, Vincent; Lee, Jiwon
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研究方向

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合作学者
合作期刊
V
Vincent Goiffon
H 指数: 28 · 论文数: 216
J
Jiwon Lee
H 指数: 8 · 论文数: 46
A
Antoine Salih Alj
H 指数: 4 · 论文数: 20
B
Bak, Jiwon
H 指数: 0 · 论文数: 1
K
Kang, Jeonwoong
H 指数: 0 · 论文数: 1
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