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收藏Ferroelectric Field Effect Transistors (FeFETs): Advancements, challenges and exciting prospects for next generation Non-Volatile Memory (NVM) applications
Ajayan, J.; Mohankumar, P.; Nirmal, D.; Joseph, L. M. I. Leo; Bhattacharya, Sandip; Sreejith, S.; Kollem, Sreedhar; Rebelli, Shashank; Tayal, Shubham; Mounika, B.
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