未登录Endurance Paradox in Hafnium-Oxide-Based Silicon-Channel Ferroelectric Transistors基于氧化铪的硅通道铁电晶体管中的耐久性悖论
Das, Apu; Paul, Agniva; Tewari, Mohit; Lou, Zhao-Feng; Chang, Yii-Tay; Senapati, Asim; Kumar, Gautham; Raffel, Yannick; Useinov, Artur; Tumilty, Niall; Wu, Tian-Li; Lashkare, Sandip; Agarwal, Tarun; Lee, Min-Hung; De, Sourav
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