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收藏Nanoscale Characterization of TiO2 Films Grown by Atomic Layer Deposition on RuO2 Electrodes
Murakami, Katsuhisa; Rommel, Mathias; Hudec, Boris; Rosova, Alica; Husekova, Kristina; Dobrocka, Edmund; Rammula, Raul; Kasikov, Aarne; Han, Jeong Hwan; Lee, Woongkyu; Song, Seul Ji; Paskaleva, Albena; Bauer, Anton J.; Frey, Lothar; Froehlich, Karol; Aarik, Jaan; Hwang, Cheol Seong
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收藏Tunneling atomic-force microscopy as a highly sensitive mapping tool for the characterization of film morphology in thin high-k dielectrics
Yanev, Vasil; Rommel, Mathias; Lemberger, Martin; Petersen, Silke; Amon, Brigitte; Erlbacher, Tobias; Bauer, Anton J.; Ryssel, Heiner; Paskaleva, Albena; Weinreich, Wenke; Fachmann, Christian; Heitmann, Johannes; Schroeder, Uwe
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