arrow
返回
S

Simon Rodet

interuniversity microelectronics centre

3H指数
8论文数
173被引数
收录论文 2
发表时间
TSV Cu Plating and Implications for CMP
err2011-04-25
err1
PREAI
errRadisic, A.; Philipsen, H. G. G.; Honore, M.; Wang, Y. S.; Heylen, N.; El-Mekki, Z.; Armini, S.; Vandersmissen, K.; Rodet, S.; Van Ammel, A.; Bender, H.; Drijbooms, C.; Vanstreels, K.; Ruythooren, W.
err分享
err收藏
Void-Free Filling of HAR TSVs Using a Wet Alkaline Cu Seed on CVD Co as a Replacement for PVD Cu Seed
err2011-01-01
err41
PREAI
errArmini, S.; El-Mekki, Z.; Vandersmissen, K.; Philipsen, H.; Rodet, S.; Honore, M.; Radisic, A.; Civale, Y.; Beyne, E.; Leunissen, L.
err分享
err收藏