未登录Experimental and Numerical Analysis of Off-State Bias Induced Instabilities in Vertical GaN-on-Si Trench MOSFETs
Zagni, Nicolo; Fregolent, Manuel; Verzellesi, Giovanni; Bergamin, Francesco; Favero, Davide; De Santi, Carlo; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Huber, Christian; Meneghini, Matteo; Pavan, Paolo
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