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A. S. Oates
taiwan semiconductor manufacturing company
30
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221
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0
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2
发表时间
发表时间
IF
被引数
Negative-bias temperature instability induced electron trapping
APPLIED PHYSICS LETTERS
IF
3.6
2008-07-23
5
PRE
AI
Campbell, J. P.; Cheung, K. P.; Suehle, J. S.; Oates, A.
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Asymmetrical critical current density and its influence on electromigration of two-level W-plug interconnection
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
IF
3.3
2000-01-01
10
PRE
AI
Huang, JS; Oates, AS; Obeng, YS; Brown, WL
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研究方向
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合作学者
合作期刊
W
W. L. Brown
H 指数: 56 · 论文数: 276
J
John S. Suehle
H 指数: 43 · 论文数: 266
K
Kin P. Cheung
H 指数: 28 · 论文数: 272
J
J. P. Campbell
H 指数: 23 · 论文数: 174
Y
Yaw S. Obeng
H 指数: 21 · 论文数: 185
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